產(chǎn)品展示
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近場探頭組HZ530（1G有源近場探頭）近場探頭組HZ530（1G有源近場探頭）是由用于EMI電磁輻射干擾診斷的三個有源寬帶探頭組成。這些探頭可與輸入阻抗為50Ω的HAMEG頻譜分析儀相連，探頭可通過頻率分析儀或電池來供電。這些探頭具有細(xì)長的外形，因此甚至在空間狹窄的測試環(huán)境中也可接觸到測試對象。
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有源近場探頭HZ540HZ550（3G）有源近場探頭HZ540HZ550（3G）?HZ540和HZ550為有源近場探頭組套裝，設(shè)計用于在解決電磁輻射問題時提供診斷幫助。這些套件分別由三個或五個不同的手持式探頭組成。它們擁有不同的靈敏度和接收特性，可結(jié)合各種頻譜分析儀、EMI接收機(jī)或示波器使用。
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PBS2近場探頭組（前置放大器UBBV2）DC-9GPBS2近場探頭組（前置放大器UBBV2）DC-9G何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測量需求。 PBS2近場探頭組包括4個磁場探頭和1個電場探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動帶來的影響
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PBS1近場探頭組（DC-9G）PBS1近場探頭組（DC-9G）適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機(jī)，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測量需求。PBS1近場探頭組包括4個磁場探頭和1個電場探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動帶來的影響。
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近場探頭EM5030（DC-3G）近場探頭EM5030（DC-3G）是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強(qiáng)度；檢測模塊附近的磁場環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的
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近場探頭生產(chǎn)廠家為您提供優(yōu)質(zhì)的近場探頭，歡迎來電咨詢近場探頭價格
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